3255B シリーズ 精密磁性アナライザー

  • 概要

    包括的なパラメトリック テストでコンポーネントを完全に特性評価
    3255B シリーズのインダクタンス アナライザは、明確かつ簡単な方法でデバイスを正確に特徴付けることができます。インダクタンス アナライザには、3255BL (200kHz)、3255B (500kHz)、3255BQ (1 MHz) の 3 つのバージョンがあります。

    コンポーネント開発の設計段階では、さまざまな動作条件下でコンポーネントがどのように機能するかを分析することが非常に重要です。これには、さまざまな周波数、AC ドライブ レベル、または DC バイアス電流での動作が含まれます。

    AC ドライブ レベルは 1 mV ～ 10 V の間で設定できます。DC バイアス電流は内部で 1 mA ～ 1 A の範囲で設定できます (オプション)。 DC バイアス ユニットの外部 3265B レンジを使用すると、バイアス電流を最大 125 A に設定できます。

    ◾テスト結果の印刷出力
    パラレル セントロニクス インターフェイスを使用すると、ユーザーはすべてのテスト結果を直接印刷して、さらなる分析とアーカイブを行うことができます。

    さらに、オプションの GPIB インターフェースを介して、測定器を PC から制御し、分析と保存のために結果を読み戻すことができます。

    LabVIEW™ ドライバは、要求に応じて入手するか、Web サイト (www.waynekerrtest.com) からダウンロードして、特定のテスト アプリケーションを開発するためのベースを提供します。

    ◾ビンソート
    ビニング機能により、コンポーネント メーカーはコンポーネントを最大 10 個のビンに分類できます。並べ替えは、絶対値または値のパーセンテージで実行されます。

    最大 125 A の DC バイアス電流によるコンポーネント テスト

    3255B および 3255BQ では、オプションの 3265B DC バイアス ユニットを使用すると、コンポーネントを最大 125 A で測定できます。拡張 DC バイアス機能は、3265B/5A または 3265B/10A を使用する 3255BL でも利用でき、利用可能な DC バイアス電流を最大 50A まで拡張します。

    最大 5 つの DC バイアス ユニットを並列に使用して、広範囲の DC バイアス電流を供給することができます。

    内部 DC バイアスは、1 mA ～ 1 A の DC バイアス電流を提供するオプションとして利用できます。

    3265B には、ユーザーを逆起電力から保護する安全インターロック システムなど、多数の安全および保護機能があります。また、過熱、過度の電圧降下、およびセンス リードの故障からも完全に保護されています。

    ◾最大 50 A の SMD インダクタ テスト
    1009 DC バイアス フィクスチャを追加すると、コンポーネント テスト中に最大 50 A の DC バイアス電流を SMD インダクタに印加して、動作バイアス電流でデバイスを完全に評価できます。このフィクスチャは、1 つまたは 2 つの 3265B/25A Wayne Kerr DC バイアス ユニットと 3255B インダクタンス アナライザで動作します。 2 つの 3265B/25A を使用する場合は、オプションの 5-328-2005 高電流リード セットが必要になります。

    背面パネルに取り付けられた 4 つの BNC コネクタと 2 つのキャプティブ高電流ケーブルにより、3265B のシンプルさと使いやすさが保証されます。

    交換可能なコンポーネント テスト キャリアにより、1009 テスト フィクスチャはさまざまなデバイスで使用できます。デバイス固有のテスト フィクスチャの開発を可能にするブランク キャリアを利用できます。あるいは、キャリアの設計および製造サービスも利用できます。

    安定したコンポーネント固定具により、高精度で再現性のある測定が保証されます。安全インターロック付きの密閉型固定具により、オペレーターへのリスクが最小限に抑えられます。
  • 主な機能
    。3機種：3255BL、3255B、3255BQ
    。広い周波数範囲 (20 Hz ～ 3 MHz)
    。0.1%の基本精度
    。 Z、L、C、Rac、Ø、Q、D、Rdc & 巻数比
    。内部 1 A DC バイアス電流 (オプション)
    。5 x 3265B で最大 125A の DC バイアス電流
    。ビン機能（オプション）
    。多周波モード
    。測定速度が速い（毎秒最大 20 回の測定）
    。わかりやすい直感操作
    。テスト結果の印刷
    。LabVIEW™ドライバによるGPIB制御
  • 技術仕様
測定機能 Z、Ø、L、C、Rac、Rdc、Q、D、巻数比
周波数範囲 20Hz～200kHz (3255BL)
20Hz～500kHz (3255B)
20Hz～1MHz （3255BQ）
ドライブレベル ソースインピーダンス 50?
開回路で 1 mV ～ 10 V rms
50 µA ～ 200 mA rms (短絡時)
自動レベル制御 (ALC) は、DUT に適用されるレベルを設定電圧の ±2%、±1 mV または設定電流の ±2%、±0.1 mA に維持し、100 Hz 未満で ±4% に低減します。
内部DCバイアス（オプション） 1mA～1A
測定速度 4速選択可能（最大20本/秒）
測定範囲 R 0.05mΩ～>2mΩ
L 1 nH ～ >1000H
C 0.01 fF ～ > 250mF
回転比 100:1 ～ 1:100
正確さ L/Rac/Z/Cp ±0.1%
Q ±0.1% (Q+1/Q)
D ±0.001 (1+ D2)
Rdc ±0.5%
入力仕様 電源 AC230V±10%またはAC115V±10%(選択可能)
50～400Hz
150VA最大消費
スクリーン ハイコントラストモノクロ液晶 320×240ドット CFLバックライト付
可視域 115×86mm
視野角 45°
測定接続 4 つのフロントパネル BNC ソケット
接地電位のスクリーンを使用した 4 線式 (ケルビン) 測定
画面上の等価回路記号
  • ソフトウェア
    – スクリーン キャプチャ (NI)
    – スクリーン キャプチャ (USB)
    – Labview ドライバー