6400シリーズ 精密コンポーネントスアナライザー

• 概要
  6430B および 6440B プレシジョン コンポーネント アナライザは、あらゆる受動コンポーネントを高分解能で徹底的かつ正確にテストします。特に、コンデンサ メーカーの場合、これらの機器は、迅速な自動製造テストと完全な設計特性評価の両方の機能を提供します。ユーザーには、受動部品の設計者、製造テスト、材料の設計とテスト、およびコンポーネントの特性を評価する回路設計者が含まれます。
  
  共振周波数は、その周波数での等価直列回路または並列回路とともに、任意のコンポーネントに対して自動的に計算できます。どちらの機器もコンポーネントの高性能テスト用に設計されており、基本精度は 0.02% で、低価格です。 6430B は 500 kHz までカバーするエントリー レベルの機器であり、フル装備の 6440B は 3 MHz までカバーします。
  
  特定の周波数範囲で部品の性能を高速に評価するには、マルチ周波数モードが使用されます。このモードでは、オペレータはどのパラメータをどの周波数で測定するかを決定します。残りは 6430B と 6440B が行い、大型 LCD ディスプレイに読みやすい表を作成します。各テストには、単純な合格/不合格の表示を含めることができます。

• コンデンサの高速自動多周波製造試験
  6430B および 6440B は、製造環境でのコンデンサの高速自動テストを提供します。ユーザーは、測定器の範囲のいずれかから測定を選択し、各コンポーネントに対して最大 8 つの異なるテストを実行できます。公差ビンは、テストごとに選択できます。すべてのテストが完了すると、装置は全体のビンを選択します。測定結果は、GPIB またはプリンタに出力できます。テスト シーケンスは、外部入力、GPIB、またはフロント パネルによってトリガーされます。テスト シーケンスが完了すると、ビンが選択され、測定データが GPIB で利用できるようになります。このプロセスは非常に高速で行われるため、デュアル周波数テストは約 180 ミリ秒で完了します。合格/不合格データは統計形式で表示され、LCD ディスプレイで表示したり、ローカル プリンタに出力したり、GPIB 経由でエクスポートしたりできます。

• 充電されたコンデンサに対する保護
  高精度の測定機器は、充電されたコンデンサに敏感であり、接続されていると修理に費用がかかり、許容できないダウンタイムが発生する可能性があります。 Wayne Kerr Electronics はこの問題を特定し、充電されたコンデンサからテスト機器を保護するソリューションを開発しました。この場合、保護ユニットがヒューズを飛ばします。ヒューズは簡単かつ安価に交換できますが、テスト機器は損傷を受けず、信頼できる正確な性能を提供し続けます。保護ユニットは、最大 25 ジュールの充電エネルギーから試験装置を保護します。

• 主な機能
  。高速自動コンデンサ テスト
  。散逸率の高い測定精度
  。高速測定
  。0.02%の基本測定精度
  。包括的な測定機能、すべての測定機能のグラフィカルなスイープ
  。コンポーネントを 3 MHz まで特性化
  。大型 LCD ディスプレイと直感的なユーザー インターフェイス
  。無敵の価格

• 技術仕様

• ソフトウェア
  – スクリーン キャプチャ (NI)
  – スクリーン キャプチャ (USB)
  – Labview ドライバー